膜厚监测片
膜厚监测片
膜厚监测晶振
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产品详情

膜厚监测片

材质:B270,BK7

尺寸:Φ140×80×1.35,Φ142×80×1.8等

材料:质量:无印子,无划痕,无点,平面±0.02

保管:真空塑料盒以及袋子,防止空气腐蚀

注解:产品主要用于新科隆、光池、昭和等光学镀膜机器,分别有单耳、双耳光控片,采用真空单片的保管方式,从而控制产品产生印子和划痕,降低使用成本。


膜厚监测晶振

注解:产品主要用于新科隆、光池、昭和等光学镀膜机器,晶振片控制镀膜物理膜厚和光控镀膜的辅助作用,特别注意是镀膜速率的控制<5,否则易发生镀膜喷溅。

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